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Current Position: Home ? Company ? 質(zhì)量控制

光寶的質(zhì)量控制

用心制造

  • 即時(shí)生產(chǎn)
  • 物料控制嚴(yán)格
  • 標(biāo)準(zhǔn)化生產(chǎn)流程
  • 卓越的生產(chǎn)能力

一致性高

  • 嚴(yán)格的工藝流程
  • 實(shí)時(shí)過(guò)程控制
  • 可重復(fù)性高

準(zhǔn)時(shí)交貨

  • 優(yōu)秀的供應(yīng)鏈
  • 高效的發(fā)貨

質(zhì)量證書

  • ISO9001:2015認(rèn)證
  • ISO10110

光寶光電的質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室為我們發(fā)出的每一款產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量把關(guān)。

光寶光電的目標(biāo)是確保制造的每一個(gè)產(chǎn)品都能通過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)。例如外觀,尺寸公差,表面質(zhì)量,平行度,光譜特性等相關(guān)步驟。我們認(rèn)為質(zhì)量控制是激光元器件在制造過(guò)程中最重要的步驟。光寶光電致力于您可以獲得質(zhì)量與性能卓越的光學(xué)產(chǎn)品,能使您的試驗(yàn)與生產(chǎn)成功完成。

ISO9000質(zhì)量體系認(rèn)證
ISO9000質(zhì)量體系認(rèn)證

晶體毛坯目視初檢

在暗房中,使用綠光激光器點(diǎn)光源或者線光源透射晶體內(nèi)部,逐層掃過(guò),通過(guò)肉眼觀測(cè)晶體坯料的缺陷情況。主要用于檢測(cè)晶體坯料內(nèi)部的包裹點(diǎn),云層,微氣泡等宏觀缺陷。

應(yīng)力儀
應(yīng)力儀可用于對(duì)晶體毛坯內(nèi)部的應(yīng)力、晶界、均勻性進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)晶體的毛坯切片,細(xì)磨或者拋光,在應(yīng)力儀下觀察材料的內(nèi)部應(yīng)力分布情況,觀察是否存在晶界,多晶,孿晶。觀察衍射光圈,通過(guò)光圈的變形情況來(lái)檢測(cè)晶體內(nèi)部結(jié)晶情況及摻雜均勻性情況。

X射線定向儀

使用X射線定向儀,可以對(duì)晶體的加工面進(jìn)行精準(zhǔn)的定向測(cè)試,用于判定晶體的加工方向的準(zhǔn)確性,檢測(cè)材料中是否存在多晶,孿晶,非晶區(qū)域。

  • 檢定精度為:0.1 arcsec.
  • 誤差范圍:±1 arcsec.
光學(xué)顯微鏡

表面質(zhì)量

  • 高清200倍CCD成像儀

可以很直觀的分辨2.5um麻點(diǎn),并且判斷麻點(diǎn)間距和麻點(diǎn)數(shù)量,是表面質(zhì)量檢測(cè)首選設(shè)備

  • 光學(xué)顯微鏡

40倍、80倍光學(xué)顯微鏡,晶體擦拭及鍍膜前檢測(cè)的首選儀器,目測(cè)觀察表面質(zhì)量及潔凈度,方便快捷。

傅里葉紅外光譜儀(PE Spectrum Two)

光譜測(cè)試

  • Uv-Vis-NIR分光光度計(jì)(Agilent Cary 7000)

測(cè)試范圍:200-2500nm
測(cè)試精度:0.001%
誤差:±0.01% 工件尺寸:>10*10

  • 傅里葉紅外光譜儀(PE Spectrum  Two)

測(cè)試范圍:2000-25000nm
測(cè)試精度:0.01%
誤差:±0.05% 工件尺寸:>12*12

1064nm激光損傷閾值測(cè)試

1064nm激光損傷閾值測(cè)試

  • 峰值功率:10GW
  • 聚焦光斑:0.5mm
  • 重復(fù)頻率:10Hz
  • 脈沖寬度:10ns
  • 測(cè)試溫度:20℃
1535nm激光損傷閾值測(cè)試

1535nm激光損傷閾值測(cè)試

  • 峰值功率:3.5GW
  • 聚焦光斑:50μm
  • 重復(fù)頻率:10Hz
  • 脈沖寬度:4ns
  • 測(cè)試溫度:20℃
Zygo 干涉儀-φ100mm

平面干涉儀

  • Zygo 干涉儀-φ100mm

測(cè)試范圍:dia2-dia100mm
測(cè)試精度:λ/30

  • 激光平面干涉儀

測(cè)試范圍:dia2-dia80mm
測(cè)試精度:λ/10

膜層牢固度檢測(cè)

  • 3M-600#膠帶拉力測(cè)試

測(cè)試范圍:通用型
操作簡(jiǎn)單快捷,測(cè)試首選

  • UMT-摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)

測(cè)試范圍:1 mN-1000 N
可量化薄膜牢固度,實(shí)驗(yàn)室型設(shè)備

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